植物冠層分析儀如何測量葉面積指數

產(chǎn)品型號： Airphen

所屬分類(lèi)：機載型植物冠層分析儀

更新時(shí)間：2018-07-04

簡(jiǎn)要描述：植物冠層分析儀如何測量葉面積指數，測量原理基于貝爾定律，結合Norman和Campbell線(xiàn)性小二乘理論?；Norman和Campbell線(xiàn)性小二乘理論所需要的已知參數包括：太陽(yáng)天頂角、冠層下的透光率和葉片的聚集指數，計算出冠層的有效LAI，結合聚集指數推算出真正的有效LAI。太陽(yáng)方位角即太陽(yáng)所在的方位，指太陽(yáng)光線(xiàn)在地平面上的投影與當地子午線(xiàn)的夾角。

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植物冠層分析儀如何測量葉面積指數

    測量時(shí)根據果園的大小。分別設置3-5個(gè)測量點(diǎn)，在每個(gè)測量點(diǎn)再分別用方框取樣法和冠層分析法測量葉面積指數。方框取樣法是將方框隨機放在樹(shù)冠上，將方框內的的葉片全部摘下，用葉面積儀測量框內的葉面積，然后根據樹(shù)冠體積和栽植密度計算葉面積指數。測點(diǎn)的選擇與冠層分析儀方法相同。冠層分析儀是分別對應測量天空5個(gè)范圍的散射輻射，這5個(gè)范圍的中心視天頂角分別為7°、23°、38°、53°和68°，分別與冠層上部和下部測量輻射通透密度，并根據轉換模型估算葉面積指數。在每一個(gè)測點(diǎn)的冠層頂部測一次，下部重復測量6-10次，冠層下方的測量在同一水平面上，且在無(wú)直接輻射的條件下進(jìn)行。為了避免光環(huán)境迅速的變化對測量結果的影響，選擇無(wú)直接輻射的條件下進(jìn)行，然后用冠層分析儀附帶的軟件對測量的資料進(jìn)一步加工以校正估值葉面積指數。

植物冠層分析儀特點(diǎn)

    *兩輪設計便于野外快速、輕松獲取數據

    用戶(hù)友好接口、適合大區實(shí)驗

    多角度測量降低直接光照影響

    GPS和羅盤(pán)精確定位測量

植物冠層分析儀優(yōu)勢

    1、Airphen植物冠層分析儀配有6個(gè)波段：450-900nm（450nm，530nm，570nm，675nm，730nm，850nm），可測量多達幾十種植被指數；采用雙視場(chǎng)角設計，極大提升了科研調查效率，而上其他品牌的產(chǎn)品不具備雙視場(chǎng)角，調查效率是很有限的。

    2、Airphen植物冠層分析儀具有的強大的散熱系統能保證產(chǎn)品在運行過(guò)程中的穩定性，而其他品牌不具備強大的散熱系統，所以其產(chǎn)品的運行穩定性是有待考量的。

    3、Airphen植物冠層分析儀專(zhuān)門(mén)針對大疆無(wú)人機開(kāi)發(fā)了云臺，可保護相機系統的安全使用以及減少相機拍攝的晃動(dòng)。

    4、Airphen植物冠層分析儀可集成同步RGB相機和熱成像相機，解決了紅外成像無(wú)法精確定位的難題，所獲得數據可用于數字高程等系列研究，應用于近地遙感地理勘測、環(huán)境調查、農業(yè)表型、精準農業(yè)、生態(tài)研究等領(lǐng)域。

    5、針對Airphen植物冠層分析儀系統在A(yíng)gisoft的基礎上開(kāi)發(fā)了的圖像處理插件，使后期的圖像處理更加簡(jiǎn)單化，其他品牌是不具備的。

    6、通過(guò)連接手機進(jìn)入控制客戶(hù)端，操作簡(jiǎn)單方便，后期的圖像數據處理在云端處理器完成，無(wú)須軟件操作就可得到想要的數據。

    7、我們的多光譜相機配套的參考板材質(zhì)不怕磨損，不屬于易損耗品，而其他品牌的參考板均屬于易耗品，增加了后期使用過(guò)程中的成本。

植物冠層分析儀介紹

    植物冠層分析儀就是屬于光學(xué)法的，特點(diǎn)是攜帶方便，不需要進(jìn)行額外的資料處理，可以直接給出葉面積指數值，原理是在假定植物冠層內的各元素隨機分布，依據冠層間隙度或光學(xué)特性反演葉面積指數。缺點(diǎn)是測量所得葉面積指數有著(zhù)較大的偏差。葉片的聚集效應越強，偏差越大。因此在測量時(shí)，一般需要用直接法校正。